西崎科技(成都)有限公司
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日本AitecSystem艾特克高照度-晶圆/液晶面板/缺陷检测系统-Nishizaki西崎科技
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日本AitecSystem艾特克高照度-晶圆/液晶面板/缺陷检测系统-Nishizaki西崎科技

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    四川 成都 郫都区 成都市郫都区创智东一路8号银座A幢13楼1316室
产品特性:检查灯是否进口:否产地:日本
品牌:日本AitecSystem型号:LLBk/LSPLED芯片品牌:NICHIA 日亚化学
LED灯珠型号:NICHIA 日亚化学色温:3400K灯体材质:铝合金
灯头规格:MR16可否调光:是有效寿命:20000H
重量:3g防护等级:IP68认证:其他
灯光颜色:冷白、 红色、 黄色、 蓝色


AitecSystem

①高照度照射光源制作对应可(~600万Lx)

②无缝式长尺寸照射光源制作对应可

③电控1台即可对应制长尺寸·高照度照射光源的制御(~7.5kW)

④灵活对应各式客制化制作要求(输出缆线位置变更·搭载扩散板规格变更等)

※照射光源系列不同,相应对应有相异,敬请随时联络弊司进行确认。

机器视觉在半导体行业的应用也非常普遍,涉及到半导体外观缺陷,尺寸大小,数量,平整度,间距,定位,焊点质量,弯曲度等的检测和测量。

检测内容包括∶高精度晶圆缺陷检测;晶圆划片定位与尺寸测量;|C封装定位,外观检测;硬盘支架尺寸测是.倒角检测∶硬盘盘片划伤,异物检测;


LLR系列

搭载***技术FAN冷却机构,同时实现基材SLIM化兴高辉度化

高性价比,FAN冷却STAND MODEL

采用高辉度LED发光体,独自开发之光学系统,散热结构的直线式光源

替代更换金属卤素灯,线性光导线照射架构

在狭窄的空间中也可以设置,确保高辉度照射下的高速外观检查

圆筒型金属部品的伤痕检查,很多光源受限于金属表面的光泽影响,很难检出伤痕,采用直线型照明,进行低角度照

射,快速检出伤痕!集光LENS-UNIT确保对摄像对象部进行PINPOINT照射,可以令多余的散光得以大大降低

用途∶钢板检查,液晶面板检查,玻璃检查,sheet检查,金属表面检查,EDGE检查,线阵相机用光源,目视检查用

光源,高精度图像处理用光源


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